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英國Elcometer456分體式涂層測厚儀,易高456系列測厚儀

英國Elcometer456分體式涂層測厚儀,易高456系列測厚儀

型號：
報價：
更新時間：	2023-11-10
訪問次數：	1954

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英國Elcometer456分體式涂層測厚儀,易高456系列測厚儀分為4個類型：E型、B（基本型）、S（標準型）、T（高級型），Elcometer 456 分體式涂層測厚儀提供多種探頭，測量機動性更強。所有探頭可互相更換，鐵基儀器可接受任何鐵基探頭，非鐵基儀器可接受任何非鐵基探頭，兩用儀器可接受所有鐵基探頭、非鐵基探頭及兩用探頭。

產品描述

品牌	ELCOMETER/英國易高

英國Elcometer456分體式涂層測厚儀,易高456系列測厚儀

英國易高Elcometer456涂層測厚儀儀器分為4個類型：E型、B（基本型）、S（標準型）、T（高級型），從zui初的易高456E型到現在的456T型，儀器功能不斷增加，456T型帶有記憶、字母數字組合記錄數據批次和藍牙傳輸功能。

英國易高Elcometer 456測量涂層厚度更快、更可靠、更準確。分體式提供多種探頭，測量機動性更強。所有探頭可互相更換，鐵基儀器可接受任何鐵基探頭，非鐵基儀器可接受任何非鐵基探頭，兩用儀器可接受所有鐵基探頭、非鐵基探頭及兩用探頭。

Elcometer456鐵基分體式儀器	-	A456CFBS	A456CFSS	A456CFTS
Elcometer456非鐵基分體式儀器	-	A456CNBS	A456CNSS	A456CNTS
Elcometer456兩用分體式儀器	-	A456CFNFBS	A456CFNFSS	A456CFNFTS

英國Elcometer456涂層測厚儀的主要功能包括:

簡便易用

大按鍵，即使戴上手套也可方便操作
多語言菜單設置
高對比度彩色LCD, 并帶有自動旋轉功能
高、低限值指示標志
工廠已校準，拆包即用

讀數準確

測量精確度±1%
符合多項國家及標準
熱穩測量
薄涂層上讀數的分辨率提高
在平滑、粗糙、稀薄表面及曲面上都可準確測量

測量可靠

重復性和再現性強
2 年主機保修期
提供全套可追溯檢驗證書
數據組合備日期和時間標記功能

堅固

密封、耐用、抗沖擊性強
防塵防水，防護等級相當于IP64
顯示器抗劃性及防溶劑性強
儀器及探頭結構持久耐用
適合在惡劣環境下使用

高效

快速讀數：70+/分鐘，使用超聲/掃描探頭為：140+/分鐘
多種校準記憶
字母數字組合命名數據組
用戶可選校準方法
與ElcoMaster™ 2.0和ElcoMaster™移動應用程序兼容

功能強大

多種探頭可互換使用
USB和藍牙^®數據輸出到iPhone*或Android™設備
可分2500組存儲150000個數據
能在金屬基體上測量厚度達30mm（1200mils）的涂層

Elcometer 456 超聲/掃描探頭

掃描模式

選擇掃描模式*后，用戶可在整個表面區域內滑動超聲/掃描探頭。探頭離開表面時，該測厚儀顯示平均涂層厚度值、zui高厚度以及zui低厚度值。每組三個讀數（平均值、高、低值）可顯示在趨勢圖上并存儲于內存中。

掃描期間，Elcometer 456顯示實時厚度讀數以及模擬柱狀圖，該圖展示與名義厚度以及任何用戶定義限值相關的厚度。

自動重復模式

當超聲/掃描探頭在自動重復模式*下滑過涂層表面時，每半秒即可產生一個讀數。單個讀數存儲在內存中。

以每分鐘超過140條讀數的讀取率，自動重復模式可加快檢驗大片涂層區域。

超聲/掃描探頭

Elcometer 456超聲/掃描探頭具有經久耐用的“卡入式”可換探頭蓋，這一革命性的設計使用戶可獲取單一讀數或快速掃描大塊表面區域，而不會損壞探頭或涂層。

在Elcometer 456掃描或自動重復模式*下，超聲/掃描探頭可使用戶在確保精確度的條件下，大大減少檢測時間。

超聲/掃描探頭使用補償功能+（Elcometer 456）時，可確保使用過程中任何探頭蓋的磨損均納入校準過程中。該儀器甚至可通知用戶何時更換探頭蓋。

計數平均模式

Elcometer 456 S型和T型均具有計數平均模式。一旦用戶定義了一次點測過程中儀器的單個讀數量，儀器即可將單個讀數平均值存儲于內存中。

固定數組大小

Elcometer 456高級型具有的固定數組大小功能可使用戶定義各數組中的zui大讀數量。一旦達到zui大讀數量，儀器將自動開啟與之前數組相關的新數組（名稱—1、名稱—2等）。

符合標準與測試方法

SSPC PA2要求每次儀器點測至少三個讀數，在10m2（~100ft2）范圍內執行五次點測。標準與測試方法通常描述儀器一次點測過程中獲取的單一讀數量和/或已確定表面區域內所需的點測量。

Elcometer 456 S型或T型可設置三個計數平均值及五個固定數組大小，以滿足此類要求。各數組對應一個測量區域。

連接超聲/掃描探頭到已選自動重復模式的Elcometer 456 T型后，SSPC PA2（或類似測試方法）的完成速度可提高40%。

Elcometer456分體式涂層測厚儀探頭介紹：

為滿足客戶的特定應用要求，所有的Elcometer 456探頭*可互換，且提供大量的設計與刻度范圍。

平直探頭 – 可在平面和曲面上測量涂層
微型探頭 - 是測量邊緣涂層、窄管涂層或小型表面區域涂層的理想產品
直角探頭 – 用于測量難以接近的地方
PINIP™探頭 – 插入式探頭，可把分體式儀器轉化為整體式儀器
遠端探頭 – 可延伸直角探頭到達一般探頭難以到達的地方
超聲/掃描探頭 - 這些探頭均裝有可更換式探頭蓋-用戶可獲取單個讀數或掃描大塊表面區域，而不會損壞探頭
防水探頭– 封閉設計，深水中使用，即使佩戴潛水手套也不影響使用
高溫探頭 – 可用在溫度高達250℃（480℉）的涂層上
陽極氧化探頭 – 抗化學溶劑腐蝕，非常適合用在陽極氧化環境中
鎧裝探頭 – 探頭帶有重型金屬強化電纜，可降低電纜損壞風險
軟涂層探頭 – 大塊面積表面探頭，用于檢測軟性覆蓋材料（經HVCA認證）
專業探頭 - 這些探頭可用在專業基體上測量，如：石墨或電鍍組件

鐵基探頭測量鐵磁基體上的非磁性涂層厚度。 Elcometer 456鐵基類儀器認可任何鐵基探頭。非鐵基探頭測量非鐵基金屬基體上的非導電涂層厚度，Elcometer 456非鐵基類儀器認可任何非鐵基探頭。兩用FNF探頭可同時用于鐵基和非鐵基應用，具有自動識別基體功能。 Elcometer 456 FNF類儀器認可所有鐵基、非鐵基以及兩用FNF探頭。

除非另有說明，Elcometer分體式探頭需在低達150°C（300°F）的環境中使用，PINIP探頭需在80°C（176°F)的環境下使用。

所有Elcometer探頭均帶有檢測證書以及一套適用于該探頭刻度范圍的校準膜片。

量程1	測量范圍:	0-1500μm (0-60mils)	精確度*:	±1-3% or ±2.5μm (±0.1mil)
量程1	分辨率:	0.1μm: 0-100μm; 1μm: 100-1500μm (0.01mil: 0-5mils; 0.1mil: 5-60mils)

探頭設計			凸面直徑	凹面半徑	zui小凈空高度	zui小樣本半徑†
直探頭	鐵基 F	T456CF1S	4mm (0.16")	25mm (0.98")	85mm (3.35")	4mm (0.16")
	非鐵基 N	T456CN1S	10mm (0.39")	10mm (0.39")	85mm (3.35")	4mm (0.16")
	兩用型 FNF	T456CFNF1S	F Mode: 4mm (0.16") N Mode: 26mm (1.02")	12.5mm (0.49")	88mm (3.46")	F Mode: 4mm (0.16") N Mode: 6mm (0.24")
直角探頭	鐵基 F	T456CF1R	4mm (0.16")	25mm (0.98")	28mm (1.10")	4mm (0.16")
	非鐵基 N	T456CN1R	10mm (0.39")	14mm (0.55")	28mm (1.10")	4mm (0.16")
	兩用型 FNF	T456CFNF1R	F Mode: 4mm (0.16") N Mode: 26mm (1.02")	12.5mm (0.49")	38mm (1.50")	F Mode: 4mm (0.16") N Mode: 6mm (0.24")
微型M5-90度探頭	鐵基 F	T456CFM5R90A	3mm (0.12")	6.5mm (0.26")	Headroom: 16mm (0.63") Width: 7mm (0.28")	4mm (0.16")
陽極氧化型	非鐵基 N	T456CN1AS	10mm (1.38")	14mm (0.55")	100mm (3.94")	4mm (0.16")
PINIP探頭	鐵基 F	T456CF1P	4mm (0.16")	60mm (2.36")	170mm (6.69")	4mm (0.16")
	非鐵基 N	T456CN1P	10mm (0.39")	50mm (1.97")	180mm (7.09")	4mm (0.16")
	兩用型 FNF	T456CFNF1P	F Mode: 4mm (0.16") N Mode: 26mm (1.02")	65mm (2.56")	180mm (7.09")	F Mode: 4mm (0.16") N Mode: 6mm (0.24")

量程 2	測量范圍:	0-5mm (0-200mils)	精確度*:	±1-3% or ±20μm (±1.0mil)
	分辨率:	1μm: 0-1mm; 10μm: 1-5mm (0.1mil: 0-50mils; 1mil: 50-200mils)
	在稀薄涂層上須具有更高的分辨率和準確性，量程2鐵基探頭性能可轉化為量程1性能

量程 3	測量范圍:	0-13mm (0-500mils)	精確度*:	±1-3% or ±50μm (±2.0mils)
量程 3	分辨率:	1μm: 0-2mm; 10μm: 2-13mm (0.1mil: 0-100mils; 1mil: 100-500mils)

探頭設計			凸面直徑	凹面半徑	zui小凈空高度	zui小樣本半徑†
直探頭	鐵基 F	T456CF2S	4mm (0.16")	25mm (0.98")	89mm (3.50")	8mm (0.32")
直探頭	非鐵基 N	T456CN2S	100mm (3.97")	150mm (5.90")	88mm (3.46")	14mm (0.55")
直角探頭	鐵基 F	T456CF2R	4mm (0.16")	25mm (0.98")	32mm (1.26")	8mm (0.32")
鎧裝探頭	鐵基 F	T456CF2ARM	4mm (0.16")	25mm (0.98")	138mm (5.43")	8mm (0.32")
可伸縮探頭	鐵基 F	T456CF2T	4mm (0.16")	25mm (0.98")	36mm (1.42")	8mm (0.32")
軟涂層探頭	鐵基 F	T456CF2B	Flat Surface	Flat Surface	89mm (3.50")	8mm (0.32")
防水探頭	鐵基 F	T456CF2SW-15	4mm (0.16")	40mm (1.98")	130mm (5.12")	8mm (0.32")
PINIP探頭	鐵基 F	T456CF2P	4mm (0.16")	60mm (2.36")	174mm (6.85")	8mm (0.32")
PINIP探頭	非鐵基 N	T456CN2P	100mm (3.97")	150mm (5.90")	185mm (7.28")	14mm (0.55")
高溫探頭 250°C (480°F)	鐵基 F	T456CF2PHT	4mm (0.16")	60mm (2.36")	174mm (6.85")	8mm (0.32")

量程 6	測量范圍:	F: 0-25mm (0-980mils)	精確度*:	±1-3% or ±100μm (±4.0mils)
		N: 0-30mm (1200mils)
	分辨率:	10μm: 0-2mm; 100μm: 2-30mm (1mil: 0-100mils; 10mils: 100-1200mils)

探頭設計

凸面直徑

凹面半徑

zui小凈空高度

zui小樣本半徑†

直探頭

鐵基

F

T456CF3S

15mm (0.59")

40mm (1.57")

102mm (4.02")

14mm (0.55")

PINIP探頭

鐵基

F

T456CF3P

15mm (0.59")

45mm (1.77")

184mm (7.24")

14mm (0.55")

量程 7	范圍： F：	0 - 31mm (0 - 1220mils)	精確度*：	±1-3% or ±100µm (±4.0mil)
量程 7	分辨率：	10μm: 0-2mm; 100μm: 2-31mm (1mil: 0-100mils; 10mils: 100-1220mils)

探頭設計			凸面直徑	凹面半徑	zui小凈空高度	zui小樣本半徑†
直探頭	鐵基 F	T456CF6S	35mm (1.40")	170mm (6.70")	150mm (5.90")	51 x 51mm² (2 x 2 sq. inch)
直探頭	非鐵基 N	T456CN6S	Flat Surface	Flat Surface	160mm (6.30")	58mm (2.30")
鎧裝探頭	鐵基 F	T456CF6ARM	35mm (1.40")	170mm (6.70")	190mm (7.48")	51 x 51mm² (2 x 2 sq. inch)
鎧裝探頭	非	T456CN6ARM	Flat Surface	Flat Surface	200mm (7.87")	58mm (2.30")

量程 0.5	測量范圍:	0-500μm (0-20mils)	精確度*:	±1-3% or ±2.5μm (±0.1mil)
量程 0.5	分辨率:	0.1μm: 0-100μm; 1μm: 100-500μm (0.01mil: 0-5mils; 0.1mil: 5-20mils)

探頭樣式					zui小凈空高度	zui小樣本直徑†
鎧裝探頭	鐵基 F	T456CF7ARM	40mm (1.58")	170mm (6.70")	200mm (7.87")	55 x 55mm² (2.17 x 2.17 sq. inch)

刻度0.5石墨	范圍	0-500μm (0-20mils)	精確度*	±1-3%或±2.5μm（±0.1mil）
刻度0.5石墨	分辨率	0.1μm： 0-100μm；1μm： 100-500μm（0.01mil： 0-5mils；0.1mil： 5-20mils)

探頭設計			凸面直徑	凹面半徑	zui小凈空高度	zui小樣本半徑†
微型M3探頭 45mm (1.77")	鐵基 F	T456CFM3---A	1.9mm (0.07")	6.5mm (0.26")	6mm (0.24")	3mm (0.12")
微型M3探頭 45mm (1.77")	非鐵基N	T456CNM3---A	6mm (0.24")	8.5mm (0.33")	6mm (0.24")	4mm (0.16")
微型M3-90度探頭 45mm (1.77")	鐵基 F	T456CFM3R90A	1.9mm (0.07")	6.5mm (0.26")	Headroom: 16mm (0.63") Width: 7mm (0.28")	3mm (0.12")
微型M3-90度探頭 45mm (1.77")	非鐵基N	T456CNM3R90A	6mm (0.24")	8.5mm (0.33")	Headroom: 16mm (0.63") Width: 7mm (0.28")	4mm (0.16")
微型M3-45度探頭 45mm (1.77")	鐵基F	T456CFM3R45A	1.9mm (0.07")	6.5mm (0.26")	Headroom: 18mm (0.71") Width: 7mm (0.28")	3mm (0.12")
微型M3-90度角 150mm (5.90")	鐵基F	T456CFM3R90C	1.9mm (0.07")	6.5mm (0.26")	Headroom: 16mm (0.63") Width: 7mm (0.28")	3mm (0.12")
微型M3-90度角 150mm (5.90")	非鐵基N	T456CNM3R90C	6mm (0.24")	8.5mm (0.33")	Headroom: 16mm (0.63") Width: 7mm (0.28")	4mm (0.16")

超聲/掃描探頭

范圍: 0-1500μm (0-60mils)+

精確度*^: ±1-3% or ±2.5μm (±0.1mil)

分辨率: 1μm: 0-1500μm (0-60mils)

探頭樣式					凸面直徑	凹面半徑		zui小凈空高度		zui小樣本半徑
zui小90°石墨 45mm (1.77")	非鐵基 N		T456CNMG3R90A		6mm (0.24")	8.5mm (0.33")		Headroom: 16mm (0.63") Width: 7mm (0.28")		4mm (0.16")
zui小90°石墨 150mm (5.90")	非鐵基 N		T456CNMG3R90C		6mm (0.24")	8.5mm (0.33")		Headroom: 16mm (0.63") Width: 7mm (0.28")		4mm (0.16")
zui小90°石墨 400mm (15.7")	非鐵基 N		T456CNMG3R90E		6mm (0.24")	8.5mm (0.33")		Headroom: 16mm (0.63") Width: 7mm (0.28")		4mm (0.16")
探頭樣式							zui小凈空高度		zui小樣本半徑†
超聲/掃描探頭		鐵基F		T456CF1U			85mm (3.50")		5mm (0.59")
		兩用型 FNF		T456CFNF1U			85mm (3.50")		5mm (0.59")
產品信息				T456C23956			超聲/掃描探頭備用保護蓋（3/包）#

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產品分類

無損檢測儀器: 鹵素檢漏儀/制冷劑氣體檢漏儀; 電子天平; 超聲波測厚儀; 德國馬爾粗糙度儀; 便攜式超聲波探傷儀; 深圳電火花檢測儀; 埋地管檢漏儀; 霍爾效應測厚儀; 美國DAKOTA超聲波測厚儀; 便攜式硬度計; 深圳粗糙度測量儀; 涂層測厚儀; 磁粉探傷儀; 測厚/探傷耦合劑
測繪儀器儀表: 標線儀; 掃平儀
環境測試儀器: 流量計; 氣溶膠發生器; 聲校準器/噪聲監測系統; 溫濕度傳感器; 煙氣分析儀; 溫濕度記錄儀; 電磁輻射分析儀; 激光塵埃粒子計數器; 柯尼卡美能達T-10照度計; 日本新宇宙氣體檢測儀; 維薩拉露點儀; 氣體檢測儀/測量儀; 照度計; 風速儀; 粉塵儀; 差壓計; 露點儀; 水分儀; 溫濕度計; 噪音計/聲級計/噪聲分析儀; 風量罩/風量儀; 浮游菌采樣器
設備診斷儀器: FLIR紅外熱像儀; 德圖testo紅外熱像儀; 福祿克過程校驗儀; 福祿克紅外熱像儀; 美國蒙拿多頻閃儀; 測距儀; 測振儀; 轉速表; 粘度計; 附著力測試儀; 爐溫儀; 紅外線測溫儀
電工測試儀器: 接地電阻測試儀; 電能質量測試工具; 電阻計; 電池測試儀; 無紙記錄儀; 絕緣電阻測試儀; LCR測試儀
電子測試儀器: 信號發生器; 頻譜分析儀; 毫歐表; 高斯計; 相序表; 示波器; 鉗形表; 萬用表; 功率計
力學檢測儀器: 數顯測力計; 扭力測試儀; 張力計
水質分析儀器: 水分測定儀; 鹽度-鈉度pNa測定儀; PH-ORP-ISE測定儀; 滴定分析儀; 水質多參數測定儀; 磁力攪拌器; 余氯/總氯測定儀; 離子濃度測定儀; BOD/COD測定儀; 色度儀/比色儀; 濁度儀; 溶解氧測定儀; 電導率儀; 酸度計/PH計
紫外線燈: 紫外線觀察箱; 手持式紫外線燈; 紫外線燈防護品; 高強度紫外線燈; 紫外線殺菌燈; 紫外線燈泡
物理光學儀器: 葉綠素儀; 阿貝折射儀; 折射儀; 光源箱; 光澤度儀; 分光測色儀; 色差儀
光纖通訊儀表: 網絡測試儀; 光纖切割刀; 光纖熔接機; 光源/紅光源; 光功率計
其他儀器儀表: 日本愛拓濃度計

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